賽默飛首席專家Eric Van Cappellen 在“The latest trends in (scanning) transmission electron microscopy”的大會報告中，首先追憶了與郭可信先生的淵源。

隨后，Eric介紹了在當前生命科學領域，隨著對細胞和組織研究的進一步深入，體電子顯微鏡再次成為趨勢，但傳統體掃描電子顯微鏡并不能滿足前沿研究的需求。而具有4種可切換離子源(Xe, Ar, N, O)的Hydra Bio Plasma-FIB，有效解決了傳統體掃描電子顯微鏡Z與X-Y方向分辨率不同以及機械變形的問題，可用于冷凍或樹脂包埋生物樣品更精確的體積成像及冷凍透射電鏡三維重構樣品的制備。

接著，Eric從電子光學的靈活性，數據收集的靈敏性，信息獲得的有效性三個角度介紹了如何解決材料科學領域的應用難題——減少樣品的電子束損傷。通過具體的案例，Eric介紹了賽默飛最新的基于AI的圖像減噪，高通量高靈敏度低劑量Ultra-X能譜，適用于電子束敏感材料成像的iDPC等有效減少樣品的電子束損傷的最新技術。

在下午的茶歇會上， Eric繼續以“Strategies to Minimize Beam Damage”為題，進一步詳細介紹了最小化電子束損傷的應對策略及其底層原理。包括通過AI進行低劑量圖像降噪的原理；Ultra-X的硬件配置及低劑量應用實例；iDPC技術的低劑量高襯度成像原理及其先進性等。

此次大會的賽默飛專場茶歇會上，我們還邀請了上?？萍即髮W的王竹君教授帶來了題為“環境掃描電子顯微手段在表界面領域的應用與發展”的報告，王教授通過賽默飛獨有的場發射ESEM技術，在倉室內通入特定氣體可以在銅表面控制生成單層/多層石墨烯及石墨烯納米帶等，并針對生成的不同層石墨烯的性能及原理進行了深入研究，在頂級期刊Nature上發表了多篇文章。

雙束電鏡產品市場經理Mikhail Dutka介紹了賽默飛雙束電鏡技術的創新及應用。報告展示了全自動及無Ga離子污染TEM樣品制備技術和應用；利用多源等離子FIB的切割SiC、陶瓷、金剛石等樣品的對比展示了每種離子源的獨特優勢，可以選擇最合適的離子源來適應更多不同種類的材料刻蝕。報告最后介紹了利用飛秒激光與雙束結合實現毫米尺度的高分辨三維重構，在增材制造造、清潔能源、半導體等需要高速大面積切割的方面的應用展示了廣闊的應用前景。

賽默飛業務拓展經理孫秀榮以“最新的分析型掃描電鏡技術進展”為主題，介紹了實時定量相分布ChemiPhase技術在金屬/無機非金屬材料中物相鑒別、定量分析及形態學統計上的進展，以及自動顆粒物分析系統Perception在鋼鐵潔凈度、汽車清潔度、鋰電池異物分析及槍擊殘留物評定中的應用。

賽默飛業務拓展經理王超基于真空/惰性氣氛傳輸工作流程，重點介紹了賽默飛氬離子拋光平臺Cleanmill和真空/惰性轉移系統CleanConnect的技術特點及其在鋰離子電池，太陽能電池，MOFs等材料方面的應用案例。實現材料從手套箱到SEM/FIB/TEM的加工表征全過程，為空氣敏感材料保駕護航。

文末驚喜

很多老師表示因時間沖突遺憾錯過Eric在28日下午茶歇會的報告，希望可以拿到報告文件。如果您也希望得到Eric的報告請掃碼提交信息，我們會郵件發給您，謝謝您對賽默飛的支持。

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